1838-2019 - IEEE Standard for Test Access Architecture for Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits
- Språk
- Okänt
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| IEEE | uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat | 978-1-5044-6343-0 |
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| IEEE | uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat | 978-1-5044-6343-0 |